成功案例Success Cases
在發展中求生存,不斷完善,以良好信譽和科學的管理促進企業迅速發展2025年09月05日, 再次衷心感謝江西某半導體新材料公司的信任與支持!貴司再次選購的安捷倫電感耦合等離子體質譜儀5800VDV ICP-OES已順利完成安裝調試與培訓。
ICP-OES 5800VDV電感耦合等離子體質譜儀具備同步垂直雙向觀測(SVDV)等功能,專為嚴苛半導體材料分析而生,助力客戶品質控制與研發創新。感恩再次選擇,譜標將繼續以專業技術與服務為半導體產業賦能!
Agilent 5800VDV:半導體級 ICP-OES 的“速度+精度”雙引擎
一、SVDV 同步垂直雙向觀測 —— 一次讀數 = 軸向 + 徑向雙重信號
軸向光程長,檢出限低(ppb 級)
徑向基體耐鹽高,可減少 90% 易電離元素干擾
同步采集,無需重復進樣,產能直接翻倍
二、半導體硬核配置
高純石英炬管 + Pt 錐接口,空白 Al<1 ppb、Fe<0.5 ppb
冷等離子體模式,K、Na 背景<0.2 ppb,滿足 SEMI G5 級高純試劑
耐 HF 基體進樣系統(PFA 霧化器、惰性炬管),直接測 BOE、磷酸蝕刻液
密閉風箱光室,N2 purge ≤ 5 min,遠紫外(167 nm)測 Al、P、S 更靈敏
三、ICV/CV 自動 QC 策略
"IntelliQuant" 360° 全譜掃描,一次曝光即可識別 70+ 雜質,誤差<5%
內置 SEMI/GB/T 模板,自動輸出 "Pass/Fail" 報告,QC 失敗即刻停泵并郵件報警
方法開發向導:輸入基體與目標限,儀器自動推薦波長、內標與背景校正點,10 min 生成 SOP
四、產能與成本實測
高純硫酸(H2SO4 98%)中 20 元素,檢出限 0.3-3 ppb,樣品通量 120 個/班
與 5100 單軸向相比,氬氣節省 30%,炬管壽命延長 40%,年度耗材成本 ↓ 約 1.8 萬元
五、典型半導體應用場景
高純濕電子化學品 —— HF、H2O2、H2SO4、IPA 中 35 元素 ≤ G5 級
硅片/晶圓表面 —— 全反射 XRF 前處理浸提液,Fe/Ni/Cu/Na 污染監控
CMP 拋光液 —— Al2O3、SiO2 漿料中 Na、K、Ca、Mg 雜質 ≤ 50 ppb
光刻膠與溶劑 —— PGMEA、NMP 中 Li、B、P、S 超低背景檢測
靶材與電子陶瓷 —— ITO、Ti、Ta、Co 靶中痕量 U/Th(<0.1 ppb)放射性控制
六、一鍵開機 + 遠程診斷
"Plug & Ignite" 30 min 完成波長校準與性能測試,網絡連接工程師在線診斷 > 80% 故障,停機時間<4 h
選擇 5800VDV,讓 ppb 級雜質無處遁形,為晶圓良率、靶材純度與工藝研發提供"即刻可判"的數據底氣!
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